新型膜厚控制仪器1
CDNY-06AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术,因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。
日本川铁sh-21便携式超声硬度计
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高温高量程在线电导率分析仪电导率控制器C259
采用微电脑设计,LCD大屏幕背光液晶显示器,电导与温度同屏显示;探头耐温程度:0~120℃;中文提示操作;具有自动温度补偿,自动转换测量频率,有效提高测量精度。继电器控制,上限报警输出;4~20mA信号隔离输出;RS-232C串行接口,可接计算机、打印机等。  
